在材料科學和電化學領域?研究材料的電學性能和潛在應用需要了解其在不同溫度下的 C-F 和 C-V 特性?為了滿足這一需求?光谷薄膜探針冷熱臺可以適配一些電化學工作站?以便在不同溫度條件下進行 C-F 和 C-V 測試?
該產(chǎn)品具有以下參數(shù)特點￤
1. 溫度范圍￤-190°C 至 600°C;
2. 溫度穩(wěn)定性￤±0.1°C;
3. 變溫速率￤0°C/min(連續(xù)變溫)或 80°C/min(逐點控溫);
4. 樣品臺尺寸￤30 × 30mm;
5. 探針￤最多可選擇 4 路鎢材質(可根據(jù)需求定制)?杠桿式探針支架?接口同軸 BNC?
C-F 和 C-V 測試如下￤
首先?在設定的溫度下進行 C-F 測試?通過改變頻率并記錄電容值的變化?分析材料的電容特性與頻率的關系?觀察不同頻率下電容值的波動情況?以及是否存在明顯的頻率依賴性?
其次?在同一溫度下進行 C-V 測試?通過改變電壓并記錄電容值的變化?分析材料的電容特性與電壓的關系?觀察不同電壓下電容值的變化趨勢?以及是否存在非線性或滯后現(xiàn)象?
光谷薄膜探針冷熱臺可以在不同溫度下進行 C-F 和 C-V 測試?它不僅具有高精度和高穩(wěn)定性的溫度控制能力?還具備強大的電化學測試功能?為深入研究材料的電化學性能提供了有力工具?
