電介質(zhì)充放電測(cè)試冷熱臺(tái)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能?
目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線(xiàn)計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過(guò)電滯回線(xiàn)測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度，無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能?
儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試?yán)錈崤_(tái)專(zhuān)為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷?薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過(guò)阻尼充放電測(cè)試，是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備?
根據(jù)客戶(hù)需求，定制電介質(zhì)充放電測(cè)試?yán)錈崤_(tái)針對(duì)塊狀陶瓷樣品進(jìn)行變溫充放電測(cè)試，考查陶瓷電解質(zhì)材料的充放電速率以及儲(chǔ)能密度?
溫控范圍：0-200℃；
溫度穩(wěn)定性和精度：0.1℃；
測(cè)試樣品：薄膜?厚膜?陶瓷?玻璃等；
可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試?
