上一章光谷薄膜說完了內(nèi)建自測試技術(shù)?其實集成電路自測特征分析通常作為多種測試方法的補(bǔ)充?涵蓋電路內(nèi)部和功能方面的測試?同時還應(yīng)用于數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)?它并非一種獨立的測試技術(shù)?而是與其他測試方法相結(jié)合?數(shù)據(jù)壓縮是在特征分析器中實現(xiàn)的，通過在電路控制的時序窗口內(nèi)?對每個電路時鐘周期進(jìn)行采樣?將作為數(shù)據(jù)輸入的邏輯測試點?特征分析器內(nèi)通常有一個16位反饋移位寄存器?根據(jù)之前與數(shù)據(jù)相關(guān)的寄存器反饋條件?數(shù)據(jù)可以以真值的補(bǔ)碼形式進(jìn)入?
在一個測試窗口中?一個16位寄存器總共有65536種可能的狀態(tài)?這些狀態(tài)經(jīng)編碼后以4位十六進(jìn)制數(shù)表示?即“特征”?每個“特征”代表一個特定電路節(jié)點在指定測試間隔中與時間相關(guān)的邏輯行為?任何該特定電路節(jié)點行為上的改變都會產(chǎn)生一個新的“特征”?用于指示可能的不正常電路功能?因此?一個節(jié)點上的邏輯狀態(tài)改變需要產(chǎn)生一個有意義的“特征”?根據(jù)所選擇的壓縮算法?超過65536個時鐘周期的測試間隔還可以產(chǎn)生有效的重復(fù)“特征”?
在開始?結(jié)束以及時鐘信號有效時?串行數(shù)據(jù)會進(jìn)入該寄存器?只要對該移位寄存器產(chǎn)生了足夠多的測試圖形?剩余部分就能唯一地定義節(jié)點的狀態(tài)和時間信息?
集成電路自測特征分析具有以下優(yōu)點：高速測試；快速生成程序；大量響應(yīng)數(shù)據(jù)可壓縮；適用于大規(guī)模生產(chǎn)測試?然而?特征分析也存在一些應(yīng)用限制：在進(jìn)行可測性設(shè)計時必須非常仔細(xì)考慮；在反饋循環(huán)和總線結(jié)構(gòu)中?診斷方法較少?
本次光谷薄膜關(guān)于內(nèi)建自測試技術(shù)就到這里了?后面我們會繼續(xù)分析集成電路測試相關(guān)內(nèi)容?感謝大家關(guān)注！
