武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司整理了不同類型的集成電路都有的一些晶圓常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目?以下是這些項(xiàng)目的測(cè)試方法 ...

上一章光谷薄膜說(shuō)完了內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)?其實(shí)集成電路自測(cè)特征分析通常作為多種測(cè)試方法的補(bǔ)充?涵蓋電路內(nèi)部 ...

前面武漢光谷薄膜提到了關(guān)于集成電路掃描設(shè)計(jì)技術(shù)?現(xiàn)在我們繼續(xù)說(shuō)集成電路內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)?集成電路的內(nèi)建 ...

武漢光谷薄膜前面說(shuō)了集成電路微控制器測(cè)試隨機(jī)存取掃描?今天我們了解下集成電路微控制器測(cè)試減少干擾掃描 ...

前面武漢光谷薄膜提到最常見(jiàn)的掃描設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)方式是采用數(shù)據(jù)選擇器?這樣可以把時(shí)序電路的測(cè)試轉(zhuǎn)換為組合電路 ...

武漢光谷薄膜整理了集成電路掃描設(shè)計(jì)技術(shù)介紹供大家參考?時(shí)序電路測(cè)試比組合邏輯電路測(cè)試要復(fù)雜?為了使電 ...

數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下￤1)測(cè)試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...

電路測(cè)試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點(diǎn)?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實(shí)際電路為例具體介紹兩種 ...

隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測(cè)試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測(cè)試 ...

偽隨機(jī)測(cè)試生成方法是一種測(cè)試方法?它可以生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測(cè)試圖形?這種方法通常由微處理器的測(cè)試 ...