偽窮舉測試是集成電路測試技術中的一種方法?它可以大大減少探針臺等設備總的測試次數(shù)和時間?偽窮舉測試具體方法如下￤
?根據(jù)待測電路的輸出對輸入的依賴關系?通?？梢园汛郎y電路分成兩大類：全局相關電路和局部相關電路。對于局部相關電路?假設其輸入端數(shù)量為n?輸出端數(shù)量為m?如果不進行電路劃分直接通過輸入組合進行測試?則測試次數(shù)為2^n;如果把該電路劃分成m個子電路?那么每一個子電路的輸入端數(shù)量n∨i肯定小于n,分別對這些子電路進行窮舉測試?總的測試次數(shù)為N?這種方法總的測試次數(shù)N肯定小于2^n?
?對于全局相關電路?探針臺等設備不能按照上面的方法進行電路的劃分來達到減少測試次數(shù)的目的?需要采用其他電路劃分方法?
