數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下￤1)測(cè)試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...

隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測(cè)試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測(cè)試 ...

偽隨機(jī)測(cè)試生成方法是一種測(cè)試方法?它可以生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測(cè)試圖形?這種方法通常由微處理器的測(cè)試 ...

偽窮舉測(cè)試是集成電路測(cè)試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺(tái)等設(shè)備總的測(cè)試次數(shù)和時(shí)間?偽窮舉測(cè)試具 ...

探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下￤1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...

通過(guò)探針臺(tái)對(duì)固定電平故障檢測(cè)生成測(cè)試碼方法￤固定電平故障￤是指導(dǎo)致電路中某一個(gè)節(jié)點(diǎn)電平為固定值的這一 ...

隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬(wàn)個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

集成電路測(cè)試系統(tǒng)在執(zhí)行過(guò)程中?通過(guò)以下幾個(gè)步驟來(lái)得出測(cè)試結(jié)果￤1?測(cè)量值記錄方法通過(guò)探針臺(tái)等測(cè)試收到 ...

集成電路測(cè)試是驗(yàn)證設(shè)計(jì)?控制工藝?管理生產(chǎn)?保證質(zhì)量?分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用等的重要手段?集成電路測(cè)試 ...

集成電路產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)紫葟脑O(shè)計(jì)開始?然后是集成電路品圓制造；制造完成的品圓要經(jīng)過(guò)集成電路品圓測(cè)試環(huán)節(jié)后才能 ...